黑体的发展史

  最开始发展的是高温黑体，早在20世纪50年代，由于光学高温计的应用，当时的苏联和英国已经研制出了黑体炉，最高工作温度可以达到2500℃。20世纪60年代，日本生产出卧式黑体炉，最高工作温度为2200℃；同年代，我国也研制出卧式黑体炉，工作温度为900～3200℃。

 在20世纪60年代，中温黑体就有人开始研究，因为当时的技术条件限制，对黑体技术（如黑体腔、等温黑体腔、黑体发射率等）认识不足，甚至将热电偶检定炉的中间放置一个靶子就看作是黑体。

 自从美国在越南战争首次使用红外技术，成功地侦察到密林中的胡志明小道后（注：当时胡志明小道是运输线），拉开了红外技术在军事上应用的序幕。随后，各国都开展了红外侦察、红外伪装、红外制导、红外诱饵、空中防卫等技术的研究工作，这就促进了对黑体技术的研究，尤其是对中低温黑体的研究。因此国外在20世纪80年代就已经有低温黑体，我国对低温黑体的研究，是从20世纪90年代开始。

 近30年来，红外技术已经广泛地应用于民用领域，如红外资源卫星、红外气象卫星、红外加热、红外干燥、医用红外、红外测温等，同时开始了民用黑体产品的研究。尤其是近20年来，红外温度计的广泛应用，作为红外温度计检定用的主要设备－黑体的市场需求量增加，这促进了黑体技术向产业化转化的进度。

 对黑体技术的研究，尤其是对黑体发射率技术的研制，从20世纪50年代开始，一直断断续续地进行着。国内一些大学，对黑体发射率进行研究，并根据辐射换热原理，对当时的黑体产品研究出一套发射率的计算方法。同时，形成了对圆柱形黑体腔，腔体长度和腔口之比（称为形腔比）为一个固定的模式。1998年，在国防计量科研课题的研究中，专家在基于等温和漫反射的基础上，应用辐射换热原理，导出了黑体发射率全新的计算公式，从理论上证明了只要黑体腔内表面温度均匀且为漫反射，黑体的发射率只与黑体的腔口面积与内表面面积之比、黑体腔内表面发射率有关，而与黑体的形状、黑体的温度无关，系统阐述了黑体发射率的理论，使得对黑体发射率理论的研究，向前迈进了一步，同时对于黑体的研制和生产，有着极大的指导意义。

 对于腔式黑体，也是一个逐步发展过程。从开始研制出雏形黑体，到开始重视形腔比，因此改进黑体腔按照一定的形腔比设计，将黑体的性能进行提高；到开始重视黑体的等温段，尽量提高黑体的等温区域，将黑体的性能进一步提高；到目前为止，应用黑体发射率的理论计算公式指出的 改进途径，使黑体的性能又得到提高；这是一个不断发展和不断完善的过程。

 在黑体的设计上，人们对于黑体的等温特性越来越重视，黑体腔内表面的温度均匀性已经作为黑体设计主要技术指标之一；因此对于有的黑体内表面温度均匀性较好的黑体，又称为“等温黑体”。对于黑体内表面温度均匀性的要求，将热管技术应用于黑体，黑体内表面等温效果很好，因此近代使用热管技术研制出的黑体，称为热管黑体。热管黑体是等温黑体的一种。

 随着科学技术发展，需要更高精度的黑体作为标准辐射源，尤其在300℃以下温度段。因此又发展了高精度的黑体，这些黑体辐射温度的准确度在（0.1～0.5）℃和0.01℃分辨率。

 我国在20世纪七八十年代，做实验与标定的黑体辐射源，用于红外标定的都是进口产品，如英国的 ISOTECH，EOI，CI的产品。法国的HGH，美国的Mikron，OMEGA的相关产品都不错。基本上黑体炉的国际市场是以美国独大，品质很好，但是进口成本太过高了，这严重限制了我国红外事业的发展，在初期，我国的广州飒特，武汉高德，华中数控等国内一线的红外热像仪的生产厂家都是使用进口国外产品完成红外设备的校准，国内的热力学科研单位也是基本上用的国外产品。黑体的市场化滞后严重制约了我国红外事业的发展。

 到本世纪初，我国主要科研单位加快了黑体产品的研发进度，黑体炉国产业化也发展很快，武汉凯尔文光电技术有限公司在这样的背景下应运而生，随着企业的不断发展，产品性能也在不断提升，达到较高水平，并争取不断缩小与国外先进水平的差距。